ASTM - Americké technické normy

Strana 8101

92904 nalezených produktů
Seřadit podle:
  • relevance
    • relevance
    • datum (nejnovější)
    • datum (nejstarší)
ASTM F1259M-96 (1.1.1996)

ASTM F1259M-96 (01.01.1996) Neplatná

Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric]

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 69.70 EUR více informací
ASTM F1259M-96(2003) (10.6.1996)

ASTM F1259M-96(2003) (10.06.1996) Neplatná

Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric] (Withdrawn 2009)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 69.70 EUR více informací
ASTM F126 (1.1.1900)

ASTM F126 Neplatná

Definitions of Terms Relating to Which Relate to the Use and Testing of Ferrite Memory Cores and Memory Core Arrays (Withdrawn 1976)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF, Norma a Redline - Online zabezpečené PDF

ASTM F1260-89 (1.1.1989)

ASTM F1260-89 (01.01.1989) Neplatná

Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 77.80 EUR více informací
ASTM F1260M-96 (1.1.1996)

ASTM F1260M-96 (01.01.1996) Neplatná

Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric]

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 77.80 EUR více informací
ASTM F1260M-96(2003) (10.6.1996)

ASTM F1260M-96(2003) (10.06.1996) Neplatná

Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 77.80 EUR více informací
ASTM F1261M-96 (1.1.1996)

ASTM F1261M-96 (01.01.1996) Neplatná

Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric]

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 69.70 EUR více informací
ASTM F1261M-96(2003) (10.6.1996)

ASTM F1261M-96(2003) (10.06.1996) Neplatná

Standard Test Method for Determining the Average Electrical Width of a Straight, Thin-Film Metal Line [Metric] (Withdrawn 2009)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 69.70 EUR více informací
ASTM F1262M-14 (1.6.2014)

ASTM F1262M-14 (01.06.2014) Neplatná

Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric) (Withdrawn 2023)

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 77.80 EUR více informací
ASTM F1262M-95 (10.11.1995)

ASTM F1262M-95 (10.11.1995) Neplatná

Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits

Dostupné jazyky: Anglicky

Dostupné provedení: Online zabezpečené PDF

od 77.80 EUR více informací
Loading
Cookies Cookies

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů. Souhlas udělíte kliknutím na tlačítko „OK“.

Souhlas můžete odmítnout zde.

Zde máte možnost přizpůsobit si nastavení souborů cookies v souladu s vlastními preferencemi.

Potřebujeme Váš souhlas k využití jednotlivých dat, aby se Vám mimo jiné mohli ukazovat informace týkající se Vašich zájmů.