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Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 20-1: Manipulace, balení, značení a přeprava povrchově montovaných součástek citlivých na společné působení vlhkosti a tepla při pájení.
Verfügbare Sprachen: Tschechisch
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)
Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 21: Pájitelnost.
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Verfügbare Ausführung: Gedruckt
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
Verfügbare Sprachen: Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache)
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength
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Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 22: Pevnost spoje.
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-1: Bond strength - Wire bond pull test methods
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-2: Bond strength - Wire bond shear test methods
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
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