DIN - Německé národní normy

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 21: Pájitelnost. .)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

VDE 0884-749-21. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability.

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-1: Bond strength - Wire bond pull test methods.

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22-2: Bond strength - Wire bond shear test methods.

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 22: Pevnost spoje. .)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 23: Zkouška životnosti při zvýšené teplotě. .)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life.

Dostupné jazyky: Anglicky a německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 24: Zrychlená zkouška odolnosti proti vlhkosti - HAST bez předpětí. .)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné

VDE 0884-749-24. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST.

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: Tištěné

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling.
(Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 25: Teplotní cykly..)

Dostupné jazyky: Německy

Dostupné provedení: PDF - okamžité stažení, Tištěné