IEC - Internationale elektrotechnische Organisation

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IEC 60191-6-18-ed.1.0/Cor.1 (31.5.2010)

IEC 60191-6-18-ed.1.0/Cor.1 (31.05.2010) Correction

Corrigendum 1 - Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for ball grid array (BGA)
(Corrigendum 1 - Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-18: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs pour montage en surface - Guide de conception pour les boitiers matriciels a billes (BGA))

Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

ab 1.30 EUR weitere informationen
IEC 60191-6-18-ed.1.0/Cor.2 (28.7.2010)

IEC 60191-6-18-ed.1.0/Cor.2 (28.07.2010) Correction

Corrigendum 2 - Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-18: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for ball grid array (BGA)
(Corrigendum 2 - Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-18: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs pour montage en surface - Guide de conception pour les boitiers matriciels a billes (BGA))

Verfügbare Sprachen: Englisch und Französisch

Verfügbare Ausführung: Elektronische PDF, Gedruckt, CD-ROM

ab 1.30 EUR weitere informationen
IEC 60191-6-19-ed.1.0 (25.2.2010)

IEC 60191-6-19-ed.1.0 (25.02.2010)

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-19: Measurement methods of the package warpage at elevated temperature and the maximum permissible warpage
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-19: Methodes de mesure du gauchissement des boitiers a temperature elevee et du gauchissement maximum admissible)

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ab 104.40 EUR weitere informationen
IEC 60191-6-2-ed.1.0 (11.12.2001)

IEC 60191-6-2-ed.1.0 (11.12.2001)

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-2: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor devices packages - Design guide for 1,50 mm, 1,27 mm and 1,00 mm pitch ball and column terminal packages
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-2: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs pour montage en surface - Guide de conception pour les boitiers a broches en forme de billes et de colonnes, avec des pas de 1,50 mm, 1,27 mm et 1,00 mm)

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ab 52.20 EUR weitere informationen
IEC 60191-6-2-ed.1.0/Cor.1 (18.10.2002)

IEC 60191-6-2-ed.1.0/Cor.1 (18.10.2002) Correction

Corrigendum 1 - Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-2: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for 1,50 mm, 1,27 mm and 1,00 mm pitch ball and column terminal packages

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IEC 60191-6-20-ed.1.0 (30.8.2010)

IEC 60191-6-20-ed.1.0 (30.08.2010)

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-20: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of small outline J-lead packages (SOJ)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-20: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des boitiers pour dispositifs a semiconducteurs pour montage en surface - Methodes de mesure pour les dimensions des boitiers a sortie en J (SOJ) de faible encombrement)

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IEC 60191-6-21-ed.1.0 (30.8.2010)

IEC 60191-6-21-ed.1.0 (30.08.2010)

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-21: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of small outline packages (SOP)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducters - Partie 6-21: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des boitiers pour dispositifs a semiconducteurs pour montage en surface - Methodes de mesure pour les dimensions des boitiers de faible encombrement (SOP))

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ab 104.40 EUR weitere informationen
IEC 60191-6-22-ed.1.0 (11.12.2012)

IEC 60191-6-22-ed.1.0 (11.12.2012)

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-22: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Design guide for semiconductor packages Silicon Fine-pitch Ball Grid Array and Silicon Fine-pitch Land Grid Array (S-FBGA and S-FLGA)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-22: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs a montage en surface - Guide de conception pour les boitiers matriciels a billes et a pas fins en silicium et boitiers matriciels a zone de contact plate et a pas fins en silicium (S-FBGA et S-FLGA))

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ab 150.10 EUR weitere informationen
IEC 60191-6-3-ed.1.0 (29.9.2000)

IEC 60191-6-3-ed.1.0 (29.09.2000)

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-3: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of quad flat packs (QFP)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-3: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs a montage en surface - Methodes de mesure pour les boitiers plats quadrangulaires (QFP))

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ab 150.10 EUR weitere informationen
IEC 60191-6-4-ed.1.0 (11.6.2003)

IEC 60191-6-4-ed.1.0 (11.06.2003)

Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-4: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of ball grid array (BGA)
(Normalisation mecanique des dispositifs a semiconducteurs - Partie 6-4: Regles generales pour la preparation des dessins d´encombrement des dispositifs a semiconducteurs a montage en surface - Methodes de mesure pour les dimensions des boitiers matriciels a billes (BGA))

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